随着 AI 与高速运算应用快速发展,CPO(共封装光学)通过缩短 ASIC 与光引擎之间的电气互连路径,为高带宽、低功耗的数据传输提供关键技术方向。然而,封装基板中的高速互连、结构寄生效应、阻抗不连续及高频损耗,也为信号完整性设计带来新的挑战。
本次研讨会将介绍如何运用 Ansys HFSS、Q3D Extractor 及 SIwave,对 CPO 封装基板及光电互连结构进行全波电磁仿真、寄生参数提取与信号完整性分析,并通过实际案例说明从结构建模、S 参数提取到通道性能评估的完整分析流程,协助工程师在设计前期识别潜在风险、优化高速互连性能并缩短设计迭代时间。