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| 26I-T11 2026-05-OPT-(Leo) 半频谱的BSDF测量.pdf |
半光谱的 BSDF 测量 |
2026-05-07 16:45:09 2026-05-07 16:45:09 |
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半光谱的 BSDF 测量
2026.05.071. 前言
半光谱的 BSDF 测量是 Ansys OMS4系统独有的方法，即采用一个波长测量材料表面的 BSDF 形状，使用积分球获取材料表面的反射/透射的光谱信息，生成一个 BSDF 数据，用于 SPeos 光学软件进行仿真。
2. 半光谱 BSDF 测量的条件
看看上边的半光谱 BRDF，测量采用三个波长（450nm, 550nm, 650nm）完成的。
右侧显示的 BRDF 截面形状是不同的。从垂直于表面的视角来看，蓝色多于绿色，绿色多于红色。而从 60° 的视角来看，则正好相反。在这种情况下，需要进行全光谱测量。这需要占用巨量的测量时间和巨大的测量数据，且费用高昂。
在这个相反的情况下，左侧显示的三个部分的形状是相似的。只需对每个部分应用一个比例即可得到相应的数值。这就是我所称的“同比分布”。换句话说，在所有的 θ/φ 方向上，R、G 和 B 的相对量保持不变。这意味着没有颜色变化，因此不需要用每个光谱波长来测量这个表面。
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