芯片焊球是封装结构的关键互连点,其温循可靠性至关重要。本方案利用 Ansys Mechanical 软件,对焊球进行热-力耦合仿真,分析其在温度循环过程中产生的塑性应变与应力。进一步结合疲劳分析理论,评估焊球的疲劳寿命,从而识别潜在失效风险,提升产品耐用性。
介绍基于 Ansys Mechanical 软件的芯片焊球温循疲劳分析解决方案。该方案通过热-结构顺序耦合,精确模拟焊球在温度循环载荷下的应力应变响应,介绍相关 ANAND 本构模型,并运用疲劳模型(如 Coffin-Manson)预测其疲劳寿命,为产品可靠性设计与优化提供关键依据。